“双85”并非神秘代码，而是指温度85℃ + 相对湿度85% RH 的双重极端环境条件。在这组参数下，对LED器件或整灯进行长时间（通常为1000小时、2000小时甚至更久）的老化试验，观察其光通量衰减程度（即“光衰”），从而评估其长期使用的可靠性与稳定性。

在智能手机用了一年就卡顿、电动车电池三年后明显衰减、家电修了又修最终只能换新的今天，我们不禁要问：这不仅是消费者关心的问题，更是企业研发、品控和市场策略的核心命题。而回答这个问题的关键，就是——寿命检测（Life Testing / Lifetime Evaluation）

环境、机械、寿命、密封性一一这四大类可靠性测试，就像四位守护者，分别守卫着产品在气候、物理、时间和防护上的底线。

气密性测试是评估密封件、容器或系统阻止气体泄漏能力的关键技术，广泛应用于航空航天、汽车制造、医疗设备等领域。其核心原理是通过量化泄漏率来判断密封性能，常用指标包括标准泄漏率（如110⁻⁶ Pam/s）和允许压降值。测试方法的选择需综合考虑灵敏度要求（微漏/宏漏）、介…

​加速寿命测试（Accelerated Life Testing, ALT）作为预测设备真实寿命的“科学手术刀”，正从实验室走向产业核心。本文深度拆解ALT的核心原理、全球标准体系及实战应用，助企业精准预判产品“寿命曲线”，避免“提前报废”或“过度设计”。

IP是“Ingress Protection”（侵入防护）的缩写，由国际电工委员会（IEC）制定，中国等同采用为国家标准 GB/T 4208。它用一组两位数字代码（如IP54、IP67、IP68），清晰定义了电气设备外壳对固体异物（包括人体、灰尘）和水的防护能力

在水的世界里，IP68不是装饰，而是生存法则。GB/T 4208不是纸上的标准，而是企业规避百万级损失的“护城河”。别让一次疏忽的测试，让产品在用户手中“沉没”。

加速寿命测试（Accelerated Life Test，简称ALT），是在不改变产品失效机理的前提下，通过施加比实际使用更严苛的环境应力（如高温、高湿、振动、电压等），加速产品的老化和失效过程，在短时间内获取产品寿命数据，再通过科学模型推算出产品在正常使用条件下的寿命。